Ключевые слова: HTS, YBCO, YDyBCO, coated conductors, stacking fault, critical caracteristics, critical current, TFA-MOD process, substrate Ni-W, RABITS process, X-ray diffraction, microstructure, porosity, lattice parameter, oxygenation treatments, phase composition, nanoparticles, angular dependence, pinning, fabrication, experimental results
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.